光學(xué)非接觸式小徑內(nèi)徑測量儀IDM可用于工件薄、內(nèi)徑極小的測量
IDM-30EX / 100EX
任何人都可以立即進(jìn)行高精度和高速測量
IDM 沒有鐵砧。使用在工件壁上反射的光筆進(jìn)行測量。可以預(yù)期高精度的測量結(jié)果,而對測量值的影響很小。
更換工件時(shí),無需更改設(shè)置。
由于可以高精度地進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn),因此可以減少向外部請求的時(shí)間和成本。
它使用 IDM 溫度、工作溫度和線性熱膨脹系數(shù)自動轉(zhuǎn)換為 20°C 的測量值。測量者無需擔(dān)心溫度控制,即可實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)測量。
溫度對測量值誤差的影響小,可降低溯源問題的風(fēng)險(xiǎn)。
主要測量實(shí)例:
環(huán)規(guī)、剪刀規(guī)、軸承、模具、光纖連接器、注塑件等。
測量示例
IDM 可以測量任何高度和厚度位置的內(nèi)徑。
測量應(yīng)用示例
不僅可以測量環(huán)規(guī),還可以測量孔距、垂直度和錐度。也可適用于方孔和狹縫,
外徑和外寬的測量方法相同,因此可用于內(nèi)外徑同軸度等多種用途。
-我們有向主要汽車相關(guān)制造商、電氣制造商和儀表制造商等各個(gè)行業(yè)的交付記錄。
-已被JQA、JBI等公共機(jī)構(gòu)使用。
小直徑內(nèi)徑測量儀IDM是一種光學(xué)非接觸式測量儀,可以處理各種測量。
-除測量環(huán)內(nèi)徑外,還可應(yīng)用于孔距、方度、錐度、方孔、狹縫。此外,由于可以測量外徑和外寬,因此也可以測量同軸度。
- 可用于客戶擁有的母帶測量儀的內(nèi)部校準(zhǔn)。
- 可以進(jìn)行小 φ0.1 mm 到 Φ100 mm 的測量。
? 分辨率 0.01 μm(可選)
?.非接觸式測量不會損壞工作。
- 易于對齊,無需測量技能。
-配備溫度補(bǔ)償系統(tǒng),自動轉(zhuǎn)換為20°C時(shí)的測量值。