軟膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀TOF-C2
模型 | TOF-C2 * TOF-C的后繼機(jī)型 |
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測(cè)量方法 | 非接觸式/電容式 |
測(cè)量對(duì)象 | 薄膜、粘性保護(hù)膜、易沾灰塵的薄膜 |
測(cè)量原理 | 電容式 |
高測(cè)量分辨率
由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測(cè)量的薄膜。
即使表面狀況粗糙,也可以進(jìn)行測(cè)量。
基重測(cè)量
操作簡(jiǎn)單(具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能)
測(cè)量厚度 | ~ 500 微米 |
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測(cè)量長(zhǎng)度 | 10 至 10000 毫米 |
測(cè)量間距 | 1 毫米 ~ |
小顯示值 | 0.01微米 |
電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
工作溫度限制 | 5-40°C(測(cè)量時(shí)溫度變化1°C以內(nèi)) |
濕度 | 35-80%(無(wú)冷凝) |
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