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更新日期：2024-03-23
簡要描述：
synos簡單光學(xué)測量的光學(xué)系統(tǒng) M-Scope J型用于光學(xué)測量的簡單光學(xué)系統(tǒng) M-Scope J型是一種用于光照射測量和光接收測量的光學(xué)系統(tǒng)。 它是一個小型單目外殼，適合集成到設(shè)備中。 配備用于同軸圖像觀察的圖像探測器連接端口，可以輕松對齊光照射位置和光接收位置。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)品種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 數(shù)顯功能 | 有 | 溫控功能 | 有 |
| 產(chǎn)地 | 進口 |
synos簡單光學(xué)測量的光學(xué)系統(tǒng) M-Scope J型
用于光學(xué)測量的簡單光學(xué)系統(tǒng) M-Scope J型是一種用于光照射測量和光接收測量的光學(xué)系統(tǒng)。 它是一個小型單目外殼，適合集成到設(shè)備中。 配備用于同軸圖像觀察的圖像探測器連接端口，可以輕松對齊光照射位置和光接收位置。 光學(xué)系統(tǒng)可以根據(jù)測量目標(biāo)和要測量的波長選擇和安裝最合適的透鏡和光學(xué)元件。 這使得在最佳光學(xué)條件下進行各種測量成為可能。
可廣泛應(yīng)用于光電探測器的入射測量、發(fā)光元件的光接收測量、生物細(xì)胞的光入射測量。
除標(biāo)準(zhǔn)型外，M型示波器J型還具有偏振依賴對策型M示波器J/PF型。
配備光纖連接端口，用于光學(xué)參數(shù)測量。 它可以以多種方式使用，例如使用光纖輸出型光源將測量光引入樣品，將測量光中繼到光纖以及使用光纖接收和測量光。
測量光照射測量
待測樣品的表面由來自測量光源的精確測量光照射。
測量光敏測量
從樣品中測量的光被中繼到光纖，以測量功率、波長和響應(yīng)等光學(xué)特性。
配備圖像檢測器連接端口。 光照射測量期間測量的光照射位置和光接收測量期間測量的光測量位置可以用同軸觀測相機直接觀察。
它配備了同軸觀測相機端口。 當(dāng)測量光照射到樣品上時，通過同軸觀察照射位置，可以將測量光可靠地照射到樣品針點。 此外，當(dāng)接收來自樣品的光時，通過同軸觀察光接收測量位置，可以將來自測量目標(biāo)的光可靠地中繼到光纖。 此外，可以直接觀察到發(fā)光狀態(tài)。
測量光照射測量
測量光電二極管的光靈敏度和光響應(yīng)特性
測量各種光學(xué)傳感器的光接收靈敏度
測量各種光波導(dǎo)上的光入射引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性
光照射半導(dǎo)體器件的失效分析
生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用，例如生物細(xì)胞的光照射
此外，通過用測量光照射各種顯微樣品來測量和分析光學(xué)特性
測量光敏測量
測量半導(dǎo)體激光器和VCSEL等激光設(shè)備的發(fā)射特性
測量從各種光波導(dǎo)接收到的光引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性
通過測量各種發(fā)光設(shè)備的光接收來測量和分析光學(xué)特性
此外，通過測量各種發(fā)光樣品的光接收來測量和分析光學(xué)特性
在晶圓級測量和分析各種光半導(dǎo)體器件的光學(xué)特性
硅光子器件的研究與開發(fā)
光學(xué)模塊和透鏡模塊的裝配調(diào)整和質(zhì)量評估
此外，光照射/光接收測量，圖像測量，檢查，一般研究和開發(fā)
synos簡單光學(xué)測量的光學(xué)系統(tǒng) M-Scope J型
| 光纖端口 |
|
|---|---|
| 輻照和光接收直徑 |
|
| 物鏡切換 | 單目（通過更換物鏡） |
| 目的 | 兼容三豐M-Plan Apo系列（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 觀察相機端口 中鏡頭放大倍率 | 1x（典型值） |
| 圖像探測器連接端口 最大光學(xué)放大倍率 | 標(biāo)準(zhǔn)：100倍（含100倍物鏡規(guī)格） |
| 同軸落射照明端口 | 標(biāo)準(zhǔn)（外形φ8mm），同軸落射照明裝置可選 |
| 調(diào)光方式 | 中性密度濾鏡（ND濾鏡）插入濾光片端口的方法（最多可以同時插入2張） |
| 攝像機支架 | C 接口 |
